Die am meisten verbreiteten Testmethoden in der Prüfung elektronischer Baugruppen sind der In-Circuit-Test (ICT), der MDA-Test (Manufacturing Defects Analysis) und der Funktionstest oder Functional Test (FCT). Jedes Verfahren hat seine Grenzen bezüglich Testabdeckung und Fehlererkennung bzw. Diagnose, weshalb es sinnvoll ist, verschiedene Prüfverfahren miteinander zu kombinieren. In allen Fällen wird zur Kontaktierung des Prüflings - auch UUT (Unit Under Test) genannt - eine Vorrichtung benötigt, die durch Federkontakte die Verbindung zur Prüfelektronik herstellt.

In der Rubrik ICT/FCT Federkontakte sind die für diese Anwendungen gängigsten Bauformen zusammengestellt, die zumeist auch masskompatibel mit Federkontakt-Serien anderer Fabrikaten auf dem internationalen Markt sind. Sollten Sie sich in der grossen Auswahl verloren vorkommen, bitten wir Sie, uns einfach anzurufen - wir beraten Sie gerne bei der Auswahl der geeigneten Federkontakte.